La Paz, Baja California Sur (OEM-Informex).- Proporcionar elementos de juicio al momento de efectuar pericias utilizando el microscopio de electrónico de barrido, como técnica principal para la obtención de las evidencias recolectadas en la escena del crimen considerando aspectos técnicos y normativos, es el objetivo del curso que durante una semana recibieron las y los químicos forenses de la Procuraduría General de Justicia del Estado, (PGJE), del instructor chileno, Leonardo Bustamante Herrera.
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Obtener mejores resultados para el esclarecimiento de un hecho delictivo es el propósito, afirma el ingeniero en el Departamento de Microanálisis en la Policía de Investigaciones de Chile, donde llevan 10 años aplicado la microscopía eléctrica y técnica de barrido para obtener pruebas en materiales como pinturas, metales, vidrios, fibras, suelos; centrándose en aquellas vinculadas a residuos de disparos de arma de fuego.
Bustamente Herrera afirmó que el equipo está diseñado para detectar residuos de rocío de impacto, altamente eficiente en el proceso de búsqueda y clasificación de residuos, acortando los plazos para efectuar análisis y brindando la certeza de que los residuos, son de arma de fuego. Tecnología sin la cual antes era más difícil obtener estos resultados.
Al clausurar el curso que coordinó María de Jesús Bejarano, jefa del Laboratorio de Química Forense, el Director de Servicios Periciales, José Miguel Almaguer sostuvo que esta capacitación apoya el proceso de certificación y acreditación, en el uso de este equipo, basándose en los parámetros bajo norma ASTM E-1588 17, práctica estándar para el análisis de residuos de disparos mediante microscopía electrónica de barrido / espectrometría de rayos X de dispersión de energía.
Se basa en la técnica principal para la obtención de las evidencias recolectadas en la escena del crimen considerando aspectos técnicos y normativos
Las y los químicos recibieron reconocimiento por concluir dicha capacitación que les acredita como especialistas en aplicaciones forenses en microscopía electrónica de barrido.